因应边缘运算需求起飞,致茂电子聚焦AI、IoT芯片测试方案
随着生成式AI的热潮,带动了高效能运算的需求,也使得外围系统的组件与相关应用的需求有所提升,而在这当中,所衍生的半导体组件测试需求,其重要性自然也不可忽视。致茂电子除了在电源量测市场已有领导地位外,在关键半导体组件测试领域也占有一席之地。为了能满足国内外客户不断提升的测试需求,日前在新竹举办半导体测试设备使用者分享会,针对GaN与射频组件测试向业界分享新一代解决方案,这能为客户在测试上带来优异的表现。
持续精进ATE市场表现,锁定AI、物联网、GaN/SiC功率组件测试需求
致茂电子半导体测试设备事业部张大志总经理于开场致词时表示,今年的分享会是致茂电子第二次举办,之所以会举办这样的活动,原因在于致茂在全球半导体测试设备领域已经经营了二十多年,这一路走来十分不易,截至2023年12月为止,致茂电子在全球的半导体测试设备出货已经超过四千台,以全球半导体ATE(自动化测试设备)市场排名来说,致茂是位于坐四望三的位置。
▲致茂电子半导体测试设备事业部张大志总经理表示截至2023年12月,致茂电子在全球的半导体测试设备出货已经超过四千台,以全球半导体ATE(自动化测试设备)市场排名来说,致茂是位于坐四望三的位置。
致茂电子半导体测试设备事业部副总经理林旭初则是谈到,近年来AI、物联网、第三代半导体(GaN/SiC)相关应用的市场不断成长,伴随而来的是极为庞大的半导体组件用量,其中AI和物联网市场更是相辅相成,随着物联网装置及AI应用的普及,能在终端装置实时运算的Edge AI将成未来的技术关键。致茂的先进SoC测试系统3680就十分适合Edge AI及IoT通讯芯片测试,能满足AI芯片高速及高精度混合讯号的测试需求,若搭配无线与射频功能板HDRF2模块,就能针对采用GPS、北斗、伽利略等导航卫星讯号,以及蓝牙、Wi-Fi、LPWAN等常见无线连网技术的射频芯片进行测试。而在GaN/SiC组件测试方面,则有Chroma 3650-S2,可以因应高功率相关的应用市场。
功耗表现锱铢必较,精准量测漏电流成关键
致茂电子半导体测试设备事业部产品营销部李永煌资深经理则是针对GaN组件的测试挑战进行探讨,随着功率等级不断提升,GaN组件的漏电流多寡会影响整体系统的功耗表现,其精准等级必须要达到nA的水平,再加上开关速度极快,对于工程师来说,ATE的精准量测能力就是重要关键。李永煌谈到,3650-S2可以因应小电流的精准量测,在进行实际测试上,由于GaN组件的高频率关系,测试机所给予的脉冲讯号也能达到小、精准与快速的要求,藉此来观测该组件的整体表现,而该机台在2022年面世之初,所能承载的电压等级为3000V,在2023年已经提升至3750V,预计2024年可望突破4000V大关,以满足高功率应用的测试需求。
▲现场实机展示Chroma 3650-S2 高效能Power IC测试平台
因应物联网与5G需求,新推出HDRF2射频测试模块
致茂集团汇宏科技开发部蔡继广协理则是针对无线射频讯号量测进行分享,汇宏科技是致茂集团旗下的子公司之一,其主要业务就是锁定无线通信量测。蔡继广谈到,Chroma 3680测试机搭配HDRF2模块,可以协助客户在资源有限的情况下,达到所需要的无线射频测试需求,而近年相当重要的5G议题也面临了测试成本居高不下的问题,所以投入的业者相对较少,但就致茂的观察来看,全球行动通讯标准组织3GPP也意识到这样的问题,所以在接下来的频谱规划中,计划开放7-24GHz的频段,届时能让测试成本下降,与此同时,汇宏也已经着手开发下一代射频测试模块,持续满足国内外系统业者的无线讯号测试需求。
▲现场实机展示Chroma 3680 先进SoC测试系统与HDRF2射频测试模块
不仅硬件,致茂电子亦为客户提供平台转换工具
致茂电子半导体测试设备事业部技术支持二部曾世芳技术副理则是就平台转换的角度出发,贴近客户真实的需求,向市场说明如何从友商的半导体测试平台转换至3680。曾世芳提到,若是传统上要进行平台的转换,可能动辄需要三至六个月左右的时间,所以有可能会错失一些市场机会,在转换的过程上的确会面临不少挑战,但如果是采用致茂所提供的完整转换方案,客户其实一个月左右就能转换完成,而且步骤相对简单,转换过程中的相关讯息会在系统上显示,协助客户进行细项调校,提高效率同时降低转换成本。
整体来说,致茂电子虽然已是全球ATE的主要业者之一,仍积极因应市场趋势及客户需求,锁定半导体市场的高成长潜力应用,以拓展市场版图,同时也不难看出,高效率的平台转换支持也是致茂电子十分重要的武器之一,可以确定的是,致茂电子在AI、物联网与第三代半导体测试领域应能持续有稳定表现,并占有领导地位。
Chroma 3650-S2 SoC/模拟测试系统
Chroma 3680 先进SoC测试系统
▲致茂先进半导体测试使用者分享会吸引近200位业界先进参
- |
- +1 赞 0
- 收藏
- 评论 0
本文由Ray转载自CHROMA官网,原文标题为:因应边缘运算需求起飞 致茂电子聚焦AI、IoT芯片测试方案,本站所有转载文章系出于传递更多信息之目的,且明确注明来源,不希望被转载的媒体或个人可与我们联系,我们将立即进行删除处理。
相关推荐
昂瑞微电子车规级蓝牙SoC芯片OM6650AM通过权威第三方测试机构AEC-Q100车规级认证
2023年9月,昂瑞微电子车规级蓝牙SoC芯片OM6650AM通过权威第三方测试机构AEC-Q100车规级认证,并已向各大车载应用厂商进行推广。显示了公司在布局车规级芯片产品线方面的实力和决心。
原厂动态 发布时间 : 2023-09-23
聚焦AI人工智慧,致茂电子SEMICON China盛大展出
Chroma致茂电子参与SEMICON China 2024中国国际半导体展,将展示一系列创新的半导体测试解决方案,专注于AI人工智慧、高效能运算(High Performance Computing,HPC)芯片、汽车半导体与AIoT等运用,以满足不断发展的半导体测试需求。
原厂动态 发布时间 : 2024-03-22
Chroma ATE Showcases Advanced Test Technology to Propel the AI Revolution at SEMICON Taiwan 2023
Chroma ATE Inc., a leading provider of automated test equipment, is participating in SEMICON Taiwan 2023. The company will exhibit a series of innovative test solutions with a focus on artificial intelligence (AI), high-performance computing (HPC), automotive, and AIoT applications, aiming to meet the ever-evolving needs of semiconductor testing.
原厂动态 发布时间 : 2023-08-31
竞沃(TLC)公司及产品介绍
描述- 竞沃电子科技有限公司——电子保护元器件专业制造商
型号- 04 100,NSML 1206,06 110,USML 1210,TVS SERIES,TRB SERIES,TRA SERIES,TRC SERIES,PC01,PSMD 0805,UU918,USMD1210,PB01,ASML 0402,AB19U,FSMD 0603,12 100,AB11,TRM SERIES,TLV SERIES,T31-19-8,MSML 1812,AB20U,PSML 0805,06 100,TLS SERIES,NPH106060E18,TD SERIES,CH270060E18,TRF SERIES,TRG SERIES,T90-52,MSMD 1812,AB09,LSMD 2920,NSMD1206,NSML***L1505,12 113,FSML 0603,12 110,T20-10-10
【仪器】Chroma推出3650-S2系列新功能模块:革新第三代半导体雪崩测试
Chroma正式推出3650-S2系列测试机的全新UIS(Unclamped Inductive Switching)功能模块,专为半导体组件的雪崩测试设计,特别适用于第三代半导体氮化镓(GaN)和碳化硅(SiC)组件。这一新功能模块旨在解决测试长期存在的问题—无法获得完整且准确的测试数据与波型数据。
产品 发布时间 : 2024-10-10
ZOKIVI(卓精微)烧录/测试/分选系列自动化设备选型指南
描述- 深圳市卓精微智能机器人设备有限公司成立于2010年,是一家专业研究IC( 集成电路)的烧录、功能测试、物料标识、包装转换以及CCD来料检查、涉及5G、物联网、等行业智能制造关键装备的高科技企业.公司拥有由一批博士后、博士、硕士组成的专家技术团队,并常年与华中科技学、武汉首义学院等开展产学研合作;同时,引进了台湾工研院“机电及集成电路”关键技术,建立了完善的双向交流机制。
型号- ZA6180-BD,Z3000-BT,ZL806-BT,JK268,TX420,ZA3000-BT,ZM7550-BTG,DDR502,G15,ZA3000-BTR,ZL808-BTG,ZH2000,ZL806-BD,BX420,ZS808-BTR,ZA2880
兼容钮扣型与软包型电池的绝佳提案:致茂17216M-10-6与二合一电池治具层架带来实验室高效测试
CHROMA 17010为电池芯实验室单位开发了专业测试机种17216M-10-6,具备-5V~10V宽范围电压输出,满足各类电池的多种分析需求,与6A~0.1µA的电流范围,并有6A / 200mA / 6mA / 200µA 4个测试档位,适用于钮扣型电池及小型软包电池的应用。
器件选型 发布时间 : 2024-09-20
Chroma Showcases Semiconductor Advanced Manufacturing Measurement Technology at SEMICON TAIWAN 2022
Chroma is participating in SEMICON TAIWAN 2022! At our booth, Chroma showcases our state-of-the-art semiconductor test and measurement solutions and provides visitors with a novel and exciting opportunity to experience our high-precision SoC test systems through MR (mixed reality).
原厂动态 发布时间 : 2022-09-21
【仪器】CHROMA 3650-S2高效能Power IC测试平台荣获亚洲金选奖,提供最高768电源信道
CHROMA致茂电子3650-S2高效能Power IC测试平台荣获EE AWARDS ASIA亚洲金选奖殊荣,,提供最高768电源信道,每信道最高3000V或320A的供电能力。并具备完整的测试功能、高精准度、强大的软件和出色的可靠性,是测试高性能MCU、模拟IC、消费性SoC的理想选择。
产品 发布时间 : 2024-09-18
【产品】Chroma推出全自动扭力/位移寿命测试机TT 1001 Torsion
Chroma推出的TT 1001为全自动扭力/位移寿命测试机,此仪器是一高效能,全自动的扭转开合测试机。其高速、准确及适用性能符合许多测试规范。
新产品 发布时间 : 2019-05-30
【产品】半导体测试方案:全方位高精度、高效能SoC测试系统/ATE自动测试系统/Pick & Place 测试分类机
Chroma提供半导体测试方案:3680全方位高精度/高效能SoC测试系统、 3380 经济且弹性极高之ATE自动测试系统、33010 PXIe 架构之自动测试系统(ATE)和3110S 双用型单测头的 Pick & Place 测试分类机。
新产品 发布时间 : 2019-05-28
CHROMA推出革命性MXADO功能适配卡,提升音频产品测试精度
传统的SOC测试机在测试这些高阶音频指标,如讯噪比、谐波失真和动态范围时,面临技术瓶颈,且量测成本高昂。随着测试要求日益提高,CHROMA公司针对这一挑战推出了革命性的MXADO功能适配卡,扩展了3380系列SOC测试机的功能,使其能够精确测量多种音频性能指针。
产品 发布时间 : 2024-08-15
晶圆/晶片/封装 半导体IC测试解决方案
型号- 3180,A330101,3680,33010,3380D,3160F,36020,3160A,3240,3160C,3260,3380,3160,3110-FT,3380P,3650-CX,3650-EX,3650,7710,3112,3111,3110,36010,A360101,3270,3240Q,54100,3240-Q
【产品】测试频率为100MHz的3380D VLSI测试系统,非常适用于IoT相关的晶片测试
Chroma新一代VLSI测试机3380D/380P/3380除采用更弹性架构外,整合密度更高且功能更强大,可满足未来IC晶片更高的测试需求。其中3380D尤其适用于一些具成本压力的元件如整合功能之MCU、MEMS等的测试。
新产品 发布时间 : 2019-06-02
CHROMA全新HDRF2量测板卡:解决RF测试难题,激发半导体芯片潜能
CHROMA致茂电子推出全新射频测试板卡HDRF2,专为半导体芯片射频测试而设计,是Chroma 3680先进SoC测试系统的选配功能板卡。 HDRF2满足了IoT、Broadcast等多领域的应用需求,更是各种内建RF功能的高阶MCU和SoC芯片测试的理想选择。
产品 发布时间 : 2024-06-27
电子商城
服务
使用FloTHERM和Smart CFD软件,提供前期热仿真模拟、结构设计调整建议、中期样品测试和后期生产供应的一站式服务,热仿真技术团队专业指导。
实验室地址: 深圳 提交需求>
提供稳态、瞬态、热传导、对流散热、热辐射、热接触、和液冷等热仿真分析,通过FloTHERM软件帮助工程师在产品设计初期创建虚拟模型,对多种系统设计方案进行评估,识别潜在散热风险。
实验室地址: 深圳 提交需求>
登录 | 立即注册
提交评论