1~40GHz弓形法材料发射率测量介绍
概述
随着军事高新技术的飞速发展,世界各国大力发展隐身技术。其中包含的材料隐身就是指在军事目标上大量使用吸波材料来衰减入射雷达波,减小雷达散射截面。
由于不同的吸波材料对入射波的反射在不同频段、不同极化方式、不同入射角的情况下是不同的,为了衡量吸波材料的吸波特性,适应高损耗微波电磁材料的研究、开发和应用需求,采用弓形法,在1~40GHz的频带范围内,对材料进行常温反射率的测试。
设备原理
弓形法使用竖直或者半圆的弓形架,弓形架上装配有一对天线,天线可在弓形架上滑动到任意位置。固定在支架上的金属板首先被用于校准,然后将金属板换成待测吸波材料样板测试,将两次测试的功率输出值进行比较,即可得出待测吸波材料的反射率。
假设收发天线间的耦合可以忽略不计,设从发射天线经过参考金属板再到达接收天线的电磁波的功率为P金,将参考金属板换为 RAM 样板后到达接收天线的功率为 P材,那么吸波材料的功率反射率为ΓP :
ΓP=P材 /P金
同理若用电压来表示反射率为:
ΓP=V材/V金
用分贝的形式表示为:
Γ(dB)=10lg (P材/P金)=10lgΓP =20lg (V材 / V金) = 20lgΓV
Γ表示吸波材料的反射率,其单位为分贝(dB)。
设备结构
反射率测试系统由网络分析仪、测试平台、弓形架、发射和接收天线、微波电缆组件、控制计算机等组建成如图 1 所示的反射率测试系统。具体而言,系统主要构成包括:矢量网络分析仪、弓形架、天线(发射和接收)及支架、测试电缆组件、标准板、样品支架、控制台、尖锥吸波材料、测试软件等;构成系统的其它部件。
图1 1-40GHz反射率测试系统结构框图
图2 典型的1~40GHz弓形法反射率常温测试系统(成都恩驰微波科技有限公司提供)
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