【产品】N8130系列超高采样率超级电容测试仪,采样速度高达1ms,充转放过程无缝切换
N8130超高采样率超级电容测试仪为恩智测控(NGI)公司针对超级电容、电池研发和生产而自主设计开发的专用测试仪器。主要包括N8130A-06005、N8130A-06020、N8130A-06100等型号。N8130采样速度高达1mS,充转放过程无缝切换,完全满足超级电容、电池充电容量、放电容量、充电等效串联内阻、放电等效串联内阻、能量转换效率、循环寿命等电气参数进行高精度测试测量。N8130支持六步法,IEC62391,QC/T741等全部主流测试标准,用户可根据需要灵活选择。
图一 实物图
产品特点:
电流范围:0-50mA/500mA/2A/10A;
电压范围:0-6V;
恒流充电、恒流放电、恒压充电、循环寿命、充电容量,放电容量、DCIR(直流等效内阻)等参数测试;
采样&通讯传输间隔高达1ms,完全真实还原测试过程数据;
充转放过程无缝切换,无过充过放;
功能丰富的上位软件,支持生产分选功能;
每通道对应状态指示灯,分选更方便;
强大的数据存储与分析功能;
百兆以太网通讯;
功能与优势:
1.容量测量
N8130可测量超级电容容量参数,含充电容量和放电容量。测试方法为:对被测超级电容以恒定电流进行充(放)电,在充(放)电过程中记录时间和电压参数,通过计算充(放)电过程中电压对时间的斜率计算容量。用户可根据IEC等各种测量标准自行选择电压、时间参数进行计算。
图二
2.N8130具有丰富的直流内阻测量功能
支持业内多种主流DCIR测试方法:多脉冲法、单脉冲法、充转放法、六步测试法、IEC测试法,可满足绝大部分用户测试需求。NGI核心测试技术确保在各种测试方法中获取高精度内阻测量结果。
图三
3.N8130可通过重复充放电循环测试
测量超级电容在充放电过程中表征寿命特征的各项物理参数并提取其衰减曲线。通过分析参数衰减曲线,用户可获取超级电容在不同应用环境下的预计寿命、充放电周期以及在不同阶段的性能指标。寿命测试结果可用于指导材料、工艺、存储等诸多环节的改善。
图四
4.四线制测量功能
超级电容测试过程中需要输出较大电流,测试线将会引入较大电压降(线损),影响测量精度。N8130全系列型号均采用四线制接线方式,直接采集超级电容两端电压而避免因测试线线损带来的电压误差,从而确保测量精度。
5.测试夹(治)具
考虑到不同规模的测试应用场景,NGI提供两种测试夹(治)具供用户选择:开尔文夹、12通道专用治具。两种测试夹(治)具均为四线制接法。
图五
6.测试软件
N8130测试软件采用平台化设计,用户可根据工艺需求自行定制测试流程;类Office界面风格,各通道独立显示,支持电压电流波形绘制,可以表格形式显示结果等诸多元素,使得这款专业软件在具备强大测试功能同时,兼具美观易用优点;设计有功率限制电路,反应时间极短,可有效保护负载不会因为过功率而损坏;采用全屏蔽技术,对恶劣测试环境具有广泛适应性,有效提高了负载抗干扰能力。
图六
应用领域:
超级电容器研发、超级电容器生产、超级电容器品质检测;
超级电容材料研究;
超级电容相关其它应用领域。
相关参数:
产品尺寸:
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产品型号
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品类
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最大输出电压(V)
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最大输出电流(A、mA)
|
电压精度
|
电流精度
|
分辨率(μA、mA、nA)
|
通道数
|
通讯接口
|
尺寸(U)
|
N3225-10K-M001
|
直流电源
|
10000V
|
1mA
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电压≤0.01%+0.05%F.S.
|
电流≤0.02%+0.05%F.S.
|
1V/0.1μA
|
1
|
LAN/RS232
|
2U
|
选型表 - 恩智测控 立即选型
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N8130超级电容测试仪 用户使用手册 (N8130系列)
型号- N8130,N8130A-06005,N8130A-060A5,N8130A-06020,N8130-06100,N8130A-06030
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