【产品】适用于FT测试的三温测试分类机3110-FT，的可设定温度范围-40℃~125℃

晶圆/晶片/封装 半导体IC测试解决方案

描述- 致茂電子提供全面的半導體測試解決方案，包括ATE測試系統、IC分選機、PXI/PXIe測試平台等。其產品涵蓋消費型晶片、電源管理晶片、射頻晶片等各類應用，並提供溫度控制、特殊產品處理等自動化分選技術。此外，還提供CIS整合解決方案和系統功能測試分類機，以降低成本並提高品質。

型号- 3180,A330101,3680,33010,3380D,3160F,36020,3160A,3240,3160C,3260,3380,3160,3110-FT,3380P,3650-CX,3650-EX,3650,7710,3112,3111,3110,36010,A360101,3270,3240Q,54100,3240-Q

三溫系統板測試分類機 TRI-TEMP SLT HANDLER MODEL 3260C

描述- Chroma 3260C是一款高性能的三温系统板测试分类机，具备高速Pick & Place功能和同步吸嘴双取与双放设计。它采用Nitro TEC主动式温控技术，支持Full Range (-40°C ~ 125°C) 测试温度，并具有IC残留检测功能。此外，机器还配备了通用治具设计和快速升温降温能力。

型号- 3260C,MODEL 3260C

三溫測試分類機 FULL RANGE ACTIVE THERMAL CONTROL HANDLER MODEL 3110-FT

描述- 这是一份关于Chroma 3110-FS三温测试分类机的技术规格说明书。该设备适用于IC终端测试，集成了Chroma混合型冰水机和TEC制冷芯片温度控制功能，支持多种晶片尺寸和标准通信接口。它具备远程监控和控制功能，能够在-40℃至125℃的温度范围内进行精确的温度控制和产品分类。

型号- MODEL 3110-FT,3110-FT

MODEL 3260C 三温系统板测试分类机

描述- Chroma 3260C是一款高性能的三温系统板测试分类机，具备高速Pick & Place功能和同步吸嘴双取与双放设计。它采用Nitro TEC主动式温控技术，支持Full Range (-40°C ~ 125°C) 测试温度，并具有IC残留检测功能。此外，该设备还配备了通用治具设计和快速升降温反应速度。

型号- 3100A,3260C,MODEL 3260C

半导体测试解决方案 晶圆/晶片/封装

型号- MODEL 3110,MODEL 3110-FT,MODEL 3180-IS,MODEL 7710,MODEL 3650,MODEL 3160C,MODEL 3111,3180,3680,MODEL 3160A,3200,3650 系列,3160A,MODEL 33010,3160C,3260,MODEL 33011,3160,3110-FT,3680 系列,MODEL 33020,MODEL 3200,MODEL 3260,MODEL 3680,3650,7710,3180-IS,3111,3110,MODEL 3380-P,MODEL 33021,3270,3240Q,MODEL 3380-D,MODEL 3180,MODEL 3380

MODEL 3180 八站逻辑测试分类机 OCTAL-SITE FINAL TEST HANDLER

描述- 该资料介绍了Chroma ATE公司生产的OCTAL-SITE FINAL TEST HANDLER MODEL 3180测试机。这款机器采用Pick & Place技术，适用于高产出多测试站点IC测试，支持多种封装类型的芯片，并具备高温测试能力。它具有八个平行测试站点，低故障率（1/10000），并提供自动重测和良率控制功能。

型号- 3180,MODEL 3180

半导体测试解决方案 晶圆/芯片/封装

型号- MODEL 3110,MODEL 3110-FT,MODEL 7710,54100 SERIES,3180,MODEL 3111,A330101,3680,3200,33010,3380D,MODEL 33010,3260,3380,MODEL 33011,33011,3110-FT,MODEL 3180-CS,3160-C,3160-A,3380P,MODEL 3650-S2,MODEL 33020,3180-CS,MODEL 3160-A,MODEL 3200,MODEL 3160-C,MODEL 3260,MODEL 3680,7710,33020,33021,3111,3210,3650-S2,3110,3380-P,MODEL 3380-P,MODEL 33021,3270,54100,MODEL 3380-D,MODEL 3180,MODEL 3380,3380-D,3240-Q

半导体测试解决方案

型号- MODEL 3110,MODEL 3110-FT,MODEL 7710,3180,MODEL 3111,A330101,3680,3200,33010,3380D,MODEL 33010,3260,3380,MODEL 33011,33011,3110-FT,MODEL 3180-CS,3160-C,3160-A,3380P,MODEL 3650-S2,MODEL 33020,3180-CS,MODEL 3160-A,MODEL 3200,MODEL 3160-C,MODEL 3260,MODEL 3680,7710,33020,33021,3111,3650-S2,3110,3380-P,MODEL 3380-P,MODEL 33021,MODEL 3380-D,MODEL 3180,MODEL 3380,3380-D

MODEL 3110-FT 三温测试分类机

描述- 本资料介绍了Chroma 3110-FS三温测试分类机，这是一款适用于IC终端测试的设备。该设备具备广泛的温度范围（-40℃至125℃）、支持多种芯片尺寸（3x3 mm至45x45 mm），并集成了Chroma混合型冰水机和TEC制冷晶体管温度控制功能。它还提供了远程监控和控制、自动重测功能和即时监控产品分类等功能。

型号- MODEL 3110-FT,3110-FT

MODEL 3110-FT 三温测试分类机 FULL RANGE ACTIVE THERMAL CONTROL HANDLER

描述- 本资料介绍了Chroma 3110-FS三温测试分类机，这是一款适用于IC终端测试的设备。它集成了Chroma混合型冰水机和TEC制冷芯片温度控制技术，支持多种晶片尺寸和标准通信接口。该设备具备远程监控功能，能够在-40℃至125℃的温度范围内进行精确的温度控制和产品分类。

型号- MODEL 3110-FT,3110-FT

3110-FT型全量程主动热控制处理器

描述- Chroma 3110-FT是一款适用于最终测试的创新型拾取放置系统，专为评估、开发和IC最终测试而设计。该系统能够处理从3x3毫米到45x45毫米的各种设备类型和尺寸，支持-40°C至125°C的温度范围，并具有远程控制操作、产量监控功能、智能自动重试和实时托盘状态等功能。

型号- MODEL 3110-FT,3110-FT