【产品】半导体测试方案：全方位高精度、高效能SoC测试系统/ATE自动测试系统/Pick ＆ Place 测试分类机
快速满足复杂的SoC测试应用需求
CHROMA 3680全方位高精度/高效能SoC测试系统，可提供高达2048个I/O通道、数位通道速率(data rate)最高可达1Gbps、最高512个并行测试的能力及512M Word测试资料记忆体深度，以提供最低的测试成本且满足复杂SoC的测试应用需求。应用范围包含微控制器(MCU)、数位音讯、数位电视、机顶盒、数位信号处理器(DSP)、网路处理器(Network Processor)、现场可程式逻辑门阵列(FPGA)及消费性电子IC应用市场等测试方案。
HDAVO(High Density Audio Video Option) 高性能混和讯号解决方案，为Chroma 3680的选购模组，拥有可同时输出的8个差动源模组(AWG)和同时接收的8个差动测量模组(DGT)，且在每一个差动源模组(AWG)上能提供高达400Msps的取样频率和在每一个差动测量模组(DGT)上能提供高达250Msps的取样频率，具有高规格、低成本和多功能等优势，适用于标准的基频、视讯、音讯、图形、STB以及DTV等广泛的混合讯号测试应用。
搭配于3680上所开发的CRISPro软体套件，让使用者可以用图形化介面(GUI)或程式语言做测试程式的开发，加上支援可同时测试(Concurrent Testing)的功能，以降低测试程式的时间，加快产品的量产速度。
经济且弹性高之完整ATE测试功能
Chroma 3380 为一经济且弹性极高之ATE自动测试系统，最高可以提供1,280通道，速率最高可达100Mbps、并提供1024个并行测试能力。不仅具有多样性模拟(analog)信号的仪器板卡可供选择，更具备各种常见ATE系统之转换软件与硬件模块，让转移平台快速方便，降低整体测试成本 (COT)。此外，3380可以完整整合射频测试仪MP5806 . 同时支持Direct Mount和Cable Mount 的测试方案，拥有4/8 RF Port及120MHz 频宽，涵盖6GHz范围内的无线测试规范，应用范围包含Wi-Fi/ BT/ GNSS/ Tuner/ NB-IoT/ LoRa等无线通讯与IoT应用及RF元件测试( PA/LNA/Converter等)，提供RF/Digital全方位ATE(CP/FT/SLT)测试解决方案。
Chroma 33010 PXIe 架构之自动测试系统(ATE)，具完整ATE功能，对于价格更敏感的客户，提供符合未来PXI 测试方案发展应用之趋势及需求，以因应未来更小IC通道及愈趋复杂功能之趋势，尤其在 IoT 及车用感测IC测试上，PXI/PXIe架构在半导体测试无论在应用多变和弹性上具有优势。应用范围包含微控制器、微机电(MEMS)感测器、射频IC(RF IC) 及电源IC (PMIC) 等测试方案。
全温度控制范围，确保IC最终品质
Chroma 3110S 双用型单测头的 Pick & Place 测试分类机，支援各种不同类型封装晶片，如BGA、μBGA、QFP 系列、QFN、Flip-Chip与TSOP等，并可支援至120mm封装尺寸. 内建全温度范围控制模组(Full range Thermal Control Unit)，可提供高功率主动式温控系统(High Power Cooling ATC)，温度范围-40°C ~ 150°C ±3°C选配高规格温控器可达-55°C ~ 175°C ±3°C的温控能力，并支援压测力量220Kgf的特殊需求，符合各类产品线综合应用，绝对是工程验证和小批量量产的理想设备。
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兵荒马乱的小青春 Lv6. 高级专家 2020-03-16已学习 -
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崇乾 Lv8. 研究员 2020-02-28学习了 -
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拿着橘子跑儿 Lv4. 资深工程师 2020-01-171 -
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silence190 Lv6. 高级专家 2020-01-17看看 -
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crystal529 Lv5. 技术专家 2019-11-22学习了 -
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119 Lv7. 资深专家 2019-07-17学习
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