【经验】雅特力MCU AT32F303中ADC输入内阻不配情况下提高ADC准确度方法
通常在使用MCU内部ADC时，如果不注意而忽略ADC的阻抗等其它特性，造成输入电阻同推荐的值不匹配， 如果输入源内阻过大， 会导致 ADC 转换精度降低，以 AT32F403 为例， ADC 推荐的输入源内阻如下：
ADC 转换精度我们可以采取一下方法来提高：
1、可以加大采样时间来消除 ADC 采样时间不足导致的转换精度不佳； 如果现在是使用 1.5 的 CLK 采样时间， 发现转换精度不佳， 可以用在项目允许的条件下， 先按： 7.5-13.5-28.5-41.5-55.5clk 的方式一步一步增大,直到满足要求；
2、 在输入 ADC 的 I/O 口处并接电容 330pF-0.1uF,以对信号预采样。
3、若采样信号低于VDDA/2(或 VREF/2)时， 可在采样前先插入一次对内部 Vrefint 1.2V 的采样， 此操作可将ADC内部采样电容放电于一理想电压后， 再对目标信号采样；
4、采样软件方式：对 ADC 采样的值第一次丢弃， 使用第二次采样的值或进行排序中值滤波；此种方式可以消除输入源
内阻过大时， 在不同通道切换时， 上一个通道的电压来不及放电， 导致的 ADC 此通道的值偏大或偏小；在ADC输入内阻不配情况下提高ADC准确度。
5、增加每次采样时间间隔。
ADC I/O口特别注意事项： 同所有 ADC 互用的 I/O 口输入的电压不能超过 VDDA(MCU 工作电压)+0.3V； 如果存在， 建议客户使用分压电阻或减压到此电压范围；
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