【经验】几招解决瑞萨MCU RH850 EEPROM库初始化时间长的问题
RENESAS(瑞萨电子)汽车大集成MCU RH850系列,集车身,底盘,发动机功能资源为一体,采用40nm工艺,符合ISO26262 ASIL-B~ASIL D的功能安全标准,多路车载通讯CAN,以太网,flexray等资源,十分适用于车身BCM控制应用。
随着车载通讯的数量增加,车载诊断协议的完善,MCU需要存储的EEPROM数据逐渐增加,如何在保证EEPROM区擦写寿命基础上,容纳更多的EEPROM数据成为开发需要考虑的难点之一。本文主要介绍RH850系列MCU的EEPROM特点,以及解决由于需要存储的EEPROM数据量增多,导致EEPROM初始化时间长的问题。
瑞萨RH850提供两种存储掉电保存数据的模拟库,分别是FDL库与EEL库,如下图1。两者均可用来存储EEPROM数据。两者的特点与优劣势如下:
1、FDL库
优点: 操作简单,接口实现方便,接口类似于直接对寄存器操作,修改的数据可直接从地址查看到数据的改动。初始化与写数据时,不需要耗费MCU较多的处理资源。
缺点:频繁擦写操作时,寿命有限,修改时需要擦除一整个block,考虑数据完整性问题,还需要数据备份
2、EEL库
优点:均衡管理EEPROM存储区,滚动更新数据,提高EEPROM寿命,无需要另外的数据备份
缺点:初始化时需要建立ID对应的链接表,耗时长。无法确切的查看存储的数据所在的地址,接口函数相对复杂。
图1 FDL库与EEL库API结构图
当我们在开发BCM产品时,面对较多的EEPROM数据,此时若使用EEL库,由于EEL库的数据存放地址是滚动的,因此在初始化时,需要将数据绑定的ID表所对应的地址进行遍历。需要在整个EEPROM空间中,找出我们所定义的ID所在的位置,则极可能出现初始化时间过长问题时,结合以上两种库的特点,我们可以有以下几种解决办法:
我们可以针对性将EEPROM数据分成两类。对于不怎么需要更新的,不考虑使用寿命的数据,我们可以使用FDL库来存储数据;对于需要频繁擦写的数据,我们可以使用EEL库来实现擦写,两种库共存来提升EEPROM使用效率。
如果确实存在较多的EEPROM数据需要使用EEL库情况下,我们应尽可能减少EEL库的ID的数量,因为ID的数量决定了EEL库初始化的时间。但同时也需要注意单个ID所携带的数据不要太多,最好每个ID的数据长度接近。
我们还可以通过提升MCU所运行的频率,来提高EEL库初始化时间。
在MCU空闲时执行EEL_handle指令,来平分初始化的时间。如下图将循环执行EEL_handle指令,改写成if语句,来避开较长的循环时间。
可以通过增加prepare块的数量,来减少EEL库的遍历时间,通过适当增加eel_descript.h中EEL_CONFIG_VBLK_CNT_REFRESH_THRESHOLD的值,来调整EEL结构,减少EEL初始化时间。
综上所述,在出现EEPROM数据增加的情况下,我们最好的办法是通过合理利用瑞萨的两个EEPROM库(FDL与EEL库),实现EEPROM数据区最大化利用,同时解决可能出现的EEL库初始化时间长的问题,其次也可以通过优化EEL库结构等方法来解决问题。
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