【经验】一文告诉你寄生电感电容对SiC MOSFET模块的电压尖峰和EMI影响
SiC MOSFET模块的使用可以显著提升产品的电气性能,并有效地降低体积,增加产品的功率密度,降低产品成本。但是由于SiC MOSFET模块具备更高的开关频率,对设计使用者来说,随着开关频率的提高,高频寄生电感电容的影响也越来越凸显。为了介绍寄生电感的影响,本文以1200V、100A的SiC MOSFET模块CAS100H12AM1为例进行阐述。
所有的物理回路都具有杂散电感,电感两端的感应电压为V=L*di/dt,半导体开关均具有寄生电容,如MOSFET输出电容,这些寄生电感电容形成谐振回路,引起开关动作时的电压尖峰,当尖峰值超过MOSFET耐压值时,将造成器件的损坏。
如图1所示,当M1和M2关闭时,感性负载的续流电流流过D1使其正向偏置。当M2开通时,M2和D1形成短路,电流从电源流出,通过D1的正向电流为Ifreewheel - Ilink。一直到Ifreewheel = Ilink时,D1变为反向偏置,成为电路的容性负载。该容性负载包括D1的反向电容和MOSFET M1的输出电容(Coss)。
此时,一部分流过负载(Iload),剩余部分(Ilink-Iload)用于给Coss充电。 Coss和电路杂散电感形成谐振电路。假设负载是感性的,且负载电感远大于杂散电感。因此负载不会对Coss形成的谐振电路提供太多的钳位或阻尼作用。
谐振电路的电阻(R)部分由M2开关的导通电阻以及电路中其他电阻组成。 设计目标是尽可能地减小电阻,以实现高效率。这使得电路欠阻尼,并且在Coss上会产生一定的尖峰。这款RLC系列电路是经典的二阶系统。
通过控制导通MOSFET的电压下降时间,可以有效地实现对电压尖峰的控制,可以通过选择适当的关断栅极电阻来实现,以确保下降时间大于谐振频率的周期。通过优化电源电路,提高谐振频率来提升开关速度。谐振电路的电容部分是固定的,但通过仔细的布局可以最大限度地降低寄生电感。
SIC MOSFET模块开关频率高,还需要特别注意EMI的影响。通过降低开关速度以满足EMI要求,会失去使用SiC MOSFET的优势。其中一个主要问题是流过模块底板的位移电流。建议采取措施通过提供位移电流路径来减少杂散电流。
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型号- MKS4J022202D00MSSD,10-FZ12NMA080NS03-M260F,0505025.MX52LEP,TFLEX HD300,BGM111,C2M1000170D,EFR32MG13P732F512GM48-C,RBN75H125S1GP4-A0,10-FY12NMA160SH01-M820F18,KT05,PS9402,SGM6022,MLX91208,28R1101-000,28R0610-000,30-FT12NMA160SH-M669F28,PS9031,LSIC2SD120E30CC,30-FT12NMA200SH-M660F08,LXXXX 15.00/05/90 4.5SN GR,28R1476-100,92ML,LX 15.00/05/90 4.5SN GR BX,MKS4J033305D00KSSD,TPCM780,RC12-6-01LS,SMBJ18CA,28R1953-000,PS9531L3,SI86XX,28B0141-000,WDU50N,SGM6032,WGM110,R5F56514FDLJ,C4D30120D,WDU70N,RBN40H125S1GPQ-A0,C2M0080120D,V23990-P629-L43,SGM2019,LSIC1MO120E0080,SID11X2K,SI8261BCD-C-IS
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