【经验】解析ADC采样噪声产生的原因

时间： 2021-11-09 来源：世强

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解析ADC采样噪声产生的原因。研发过程中常常需要将检测到的连续变化的模拟量如：温度、压力、流量、速度、光强等转变成离散的数字量，才能输入到MCU中进行处理。这些模拟量经过传感器转变成电信号（一般为电压信号），经过放大器放大后，就需要经过一定的处理变成数字量。实现模拟量到数字量转变的设备通常称为模数转换器（ADC），简称A/D。

通常希望在输入模拟量不变的情况下，在A/D转换后的数字量也能够保持不变。但现实的研发过程中往往会出现十个LSB-几十个LSB的抖动甚至更大都有可能。要解决问题，就要先从了解噪声产生的原因开始。那么就先从噪声产生的原因来说起。

1、输入的模拟量本身含有噪声：

其实这种情况对于ADC来说，只是相对在微观层面真实的还原了模拟输入的信号。

2、ADC的VREF不稳：

这种情况多数来源于设备ADC没有内部的VREF，外部也没有使用专业的参考电源芯片。

3、ADC参考地不稳：

这种情况多数源于电源地、信号地、和ADC的参考地在设计、布板过程中处理不好引起为多。当然电源地本来就很不干净也会对ADC的采样有影响。

4、空间干扰

空间干扰的产生一般分为放电噪声、浪涌噪声、高频振荡噪声等，总的来说分为共模干扰和差模干扰两类。

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