【产品】专门针对UFS颗粒存储芯片进行高低温老化的老化板SP-352A,可大幅降低工程技术人员维护时间
SP-352A是一款专门针对UFS颗粒存储芯片进行高低温老化的老化板。老化板进行子母板设计制造,可向下兼容eMMC、eMCP、ePOP等多种芯片进行老化作业。
性能特点
1、采用弹性更换测试座设计,可大幅降低工程技术人员维护时间
2、大板固定,小板更换设计,不同封装产品只需更换小板socket board即可,成本低廉
3、ARM内可建制BIB自我检测功能,确保每一个socket上板良率
4、测试座独立可拔插替换式,方便更换与维护
5、预留MES系统对接接口
6、BIB板内建制温度侦测功能
7、单颗DUT独立电源设计,保护产品
设备规格
设备型号:SP-352A
使用产品类别:UFS/eMMC/eMCP/ePOP
温度范围:-20°~85°
测试DUT数:126pcs
尺寸:555mm(长)*450mm(宽)*37mm(高)
重量:6kg
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可根据用户的MOSFET管进行参数检测出具报告,静态参数最大电压:7500V、检测最大电流6000A;动态参数最大电压:3300V、检测最大电流:4500A。该测试标准满足GB、IEC及行业标准等,具备可靠性评估及老化实验能力。
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