【经验】先进的算法来实现闪存产品的全局磨损均衡,以确保闪存产品在其使用寿命内得到最大程度的使用

2020-08-12 ATP ELECTRONICS
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NAND闪存单元排列到页面和块中。 数据写在页面上,但是最小擦除单位是块。 由于闪存的特性,每个编程和擦除(P / E)周期都会使单元磨损,从而使闪存只能在有限的时间内可用。

过去,闪存的预期寿命在很大程度上取决于其类型。 每个单元仅存储1 bit的单层单元(SLC)被认为是最可靠,寿命最长的单元。 多层单元(MLC)(每个单元存储2 bits)的等级接近SLC。 三层和四层单元TLC / QLC仅适用于消费类使用,其低耐久性不能满足企业和工业应用的需求。

得益于技术的巨大进步,闪存的发展已经取得了长足的进步,这主要归功于强大的闪存控制器,可实现更高的可靠性和更长的产品使用寿命。

在本文中,我们讨论了最常见的闪存控制器功能之一,可帮助最大限度地提高闪存的预期寿命。

磨损均衡

磨损均衡机制允许闪存设备在所有块之间平均分配P / E周期。 它可以防止过度使用的块过早磨损,因此可以最大程度地使用所有块。 磨损均衡可延长使用寿命,并提高存储设备的可靠性和耐用性。

图1.带和不带磨损均衡的存储设备的图形表示

磨损均衡有三种类型

动态– 确保仅在擦除次数最少的块上写入数据。 不利的一面是,磨损均衡仅限于“热”或频繁修改的区域,因此那些很少访问的静态数据的块不包括在可用空间池中,从而限制了通过磨损均衡的块的数量。

静态–包括磨损均衡过程中的静态数据或“冷”块。 如果块包含静态或很少访问的数据,则其写入/擦除计数很低。 数据从“冷”块移至“热”块,并将释放的块添加到可用空间池中,以备将来使用。 重新分配静态数据是一个更复杂的过程,因为它涉及多个操作以移动静态数据。 虽然在延长闪存寿命方面更有效,但静态磨损均衡仅覆盖单个闪存芯片。

全局–通过包括可用空间和带有静态数据的块,可以像静态磨损均衡一样工作,但是主要区别在于其覆盖范围扩展到整个闪存设备。

下图说明了执行区域的差异:

动态磨损均衡

单芯片

仅空闲块

静态磨损均衡

单芯片

空闲块+用户数据块

全局磨损均衡

多个芯片,整个设备

空闲块+用户数据块

图2.动态、静态和全局磨损均衡的执行区域差异。 图片参考:嵌入式计算

ATP增强的磨损均衡

ATP使用先进的算法来实现其闪存产品的全局磨损均衡,该算法执行动态和静态磨损均衡,以确保闪存产品在其使用寿命内得到最大程度的使用。

ATP增强型磨损均衡将一个驱动器中的所有NAND闪存组件作为统一的内存管理单元进行处理和管理。 磨损均衡由闪存控制器执行,并且独立于主机系统,从而将对系统性能的影响降至最低。

这个怎么运作:

“增强的磨损均衡”机制有四个主要步骤:

1、建立并更新链路表,该表用于将主机的逻辑地址转换为闪存的物理地址。

2、记录一个区域中所有块的“擦除计数”,并将它们保存到磨损均衡表中。 该表由控制器中的RAM寄存器单元维护。 该表会将每个块的“擦除计数”保留在闪存IC中。

3、查找静态块(擦除计数为“ 0”)并将该块地址保存在磨损均衡指针中。 该指针用于选择要交换的下一个可用块。

4、从备用池中取出一个块时,请检查“擦除计数”。 如果过计数块大于备用块,则将静态备用块替换为过计数块。 “过多计数”表示该块的擦除计数已经高于磨损计数寄存器,因此应尽快交换该块。


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