【产品】整合SD卡测试机与自动分类机功能的Test-In-Tray测试分类机3280

时间： 2019-05-31 来源：Chroma

技术问答

CHROMA Test-In-Tray测试分类机 3280采用创新的技术整合SD卡测试机与自动分类机的功能，并利用Test-In-Tray的技术来达到大量平行测试的能力。透过支援SD资料传输协定(SD Protocol Aware)与提供特定DC参数测试的功能，3280为所有的SD卡类产品带来了一个创新的测试方法，而这高效率的测试方法也为客户带来大幅降低生产成本的好处。此外，小机台的设计更可节省机台于测试厂之占地面积。

Test-In-Tray 测试分类机

3280 Test-In-Tray测试分类机的主要特色：

· 整合SD卡测试机与自动分类机功能

· 平行测试120个micro SD卡

· Test-In-Tray

· UPH = 5400 (以70秒的测试时间为例)

· 支援SD卡资料通讯协定

· 支援DC参数量测功能

· Microsoft Windows XP OS

· 提供Tray Map与分类结果资讯

· 小机台体积 : 164cm×9cm×180cm

· 选配设备

· 3rd Party测试模组整合

· Mini SD, SD与MMC的测试介面

· SD卡资料写入模组

对于低价的消费性产品而言，即使在生产成本上仅有些微的差距，制造商也会极为敏感。而这样的特性往往是此类消费性产品在成品测试中之一大挑战。对于SD卡类产品而言，为了能够降低生产的成本，SD卡类制造商了解在SD卡的制程中必须采用Known Good Die(KGD)来进行生产。其主要的原因，乃是因为采用KGD生产的SD卡类产品，将可减少在成品测试中对于测试项目的要求，只需针对成品封装过程中所可能产生的瑕疵进行检测，而不需要再对整个晶片进行完整的测试。

Chroma 3280整合了测试机台与自动分类机的功能，并采用创新的设计，满足采用KGD生产的SD卡类产品的测试需求，不论是在机台的成本或是体积上，都比传统的测试机台大幅降低，因此也就能够相对地大幅降低测试的成本。

Chroma 3280提供SD卡高效率的测试解决方案

Test-In-Tray : 乃是将待测物置于IC托盘中直接测试的测试方式。利用这样的测试方法，可以大幅节省传统的测试方法因自动分类机在进行测试时，必须以机器手臂夹取每个待测元件所需花取的索引时间。因此，提供了一个最有效率的测试方法。在Chroma 3280中，对于120个SD卡进行测试时所需花费的索引时间大约只有10秒钟。

高平行测试能力 : Chroma 3280配备了一个专属的SD卡测试机巢 (Test Hive)，此一测试机巢提供了能够同时测试120个micro SD卡的测试能力。

仅移除SD卡测试坏品：由于3280使用置于盘中直接测试(Test-In-Tray)以及SD卡有着高良率的特性，3280采取仅从整盘的SD卡中移除于测试过程中所侦测到的瑕疵品到废品盘内，同时再从预先准备好的补充盘中夹取已测试过的良品来补足目前测试盘中被移除的坏品，而将目前的测试盘填满成一完整的良品，并送至完测区。假设若以98%的测试良率而言，每次仅需从测试盘中移除2到3个坏品。因此，在进行好坏品分类中平均所花的时间将小于测试所花的时间，不须要等候分类工作完成后才能进行下一次的测试，也使得整体的测试时间更有效率。

SD卡测试模组 : Firecracker II

Firecracker II的电路设计与装置于3280测试机巢 (Test Hive)中的测试模组其电路设计完全一样。对于3280的使用者而言，Firecracker II是一个相当方便的工具。它能够使得使用者在与3280离线的状态下，用来产生或测试其测试程式。透过多样化转接介面的设计，使用者能在Firecracker II的左端中插入micro SD, mini SD, SD以及MMC等不同的待测物，而将其右边的USB介面可插入电脑的USB插槽，配合Firecracker II所提供的软件程式，使用者将可进行直接的测试或是除错等工作。

软件功能：

· 使用者权限与密码管理

· 机台状况警示侦测系统

· 视觉化图解显示机台卡件错误发生区域

· 提供离线模拟执行模式

· 即时测试结果显示与更新

· 可个别指定或取消单一待测物之测试

· 测试良率与UPH资讯显示

· 多种良率监控指标设定

· 测试中机台开门中断保护功能

· 紧急停机控制功能

· 系统警示纪录保存功能

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63101A	负载	0V~80V	20mV	20W/200W	0A~4A/0A~40A	100kΩ	0℃~40℃	10μs

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