【经验】芯科EFR32FG23芯片应用程序发送单载波信号的方法
使用无线SoC芯片EFR32FG23开发完程序后，在生产时有时候需要测试EFR32FG23的发射功率是否正常。正常情况下，需要在EFR32FG23芯片烧录railtest固件并测试发射功率之后，再烧录EFR32FG23的应用程序。这样要烧录两次固件，比较麻烦。本文主要介绍如何在EFR32FG23芯片的应用程序发送单载波信号的方法。
我们在应用程序中增加测试发射功率的代码，生产时可以将EFR32FG23芯片的某个GPIO拉低，然后将EFR32FG23芯片复位就可以进入测试模式，这样在生产测试时就不用烧录两次固件了。
1、在main.c文件增加如下头文件代码：
#include "em_gpio.h"
#include "app_log.h"
2、在main.c文件增加如下宏定义：
#define NORMAL_MODE 0
#define TEST_MODE 1
3、在main()函数中增加工作模式的变量定义。
uint8_t u8WorkMode;
4、在main()函数中增加GPIO的检测代码，如果芯片复位之后检测到PB01引脚被拉低，则进入测试模式；否则，进入正常模式。如果进入测试模式，则设置发射功率为20 dBm，并让EFR32FG23芯片发送单载波信号。
//If the PB01 pin is pulled low when the chip is reset, enter the test module;
//Otherwise, enter the normal mode.
if (!GPIO_PinInGet(gpioPortB, 1))
{
app_log_info("Enter test mode\n");
u8WorkMode = TEST_MODE;
//Set the tx transmit power to 20 dBm.
RAIL_SetTxPower(rail_handle, 200);
//Send single carrier signal on channel 0.
RAIL_StartTxStream(rail_handle, 0, RAIL_STREAM_CARRIER_WAVE);
}
else
{
app_log_info("Enter normal mode\n");
u8WorkMode = NORMAL_MODE;
}
5、在测试模式，为了避免应用程序对测试程序的干扰，所以在while()循环中增加如下判断代码。
//If in test mode, do not run the application process.
if(u8WorkMode == NORMAL_MODE)
{
// Application process.
app_process_action(rail_handle);
}
6、将编译后的固件烧录到EFR32FG23芯片，查看复位时拉低PB01引脚和没拉低PB01引脚的打印信息，发现EFR32FG23芯片可以分别进入正常模式和测试模式。
7、使用频谱仪看到EFR32FG23芯片在测试模式下，可以正常的发送单载波信号。
8、如果需要校准频偏，则按照下面的方法修改晶振的CTUNE值，编译程序后再下载固件到EFR32FG23芯片进行测试。如果测到的频率偏小，则把CTUNE改小；如果测试到的频率偏大，则把CTUNE改大。直到测试到的频偏值最小。
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