热阻测试及功率循环测试解决方案商——贝思科尔(BasiCAE)
产品亮点:
FloTHERM散热仿真软件
以CFD原理为基础,对系统在层流、湍流或过渡态状态下的导热、对流及辐射情况进行求解,获得系统流动传热的全景。
在产品开始设计的最初期,工程师就可利用它创建虚拟模型,对多种系统设计方案进行评估,识别潜在散热风险,规避样机试制风险,减少重复设计,缩短开发周期,降低成本。
FloEFD通用流体传热分析软件
FloEFD 完全支持直接导入 Pro/E、Catia、Solidworks、Siemens-NX、Inventor 等所有主流三维 CAD 模型,并可以导入 Parasolid、 IGES、STEP、ASIC、VDAFS、WRML、STL、IDF、DXF、DWG 等格式的模型文件。
直接应用 CAD 实体模型,自动判定流体区域,自动进行网格划分,无需对流体区域再建模。在做 CAD 结构优化分析时,先对一个 CAD 模型进行一次 FloEFD 分析定义,同类结构(装配)的 CAD 模型只需应用独有的项目克隆(Project Clone)技术,即可马上进行不同装配下的 FloEFD 计算,从而快速优化设计方案。
Micred T3Ster半导体器件封装热特性测试仪器
专为半导体、电子应用和LED行业以及研发实验室的应用而设计。
测量封装半导体器件以及其他电子设备的瞬态热特性,测量的器件包括分离或集成的双极型晶体管、MOS晶体管、常见的三极管、LED封装和半导体闸流管,各种封装类型的IGBT器件及模组模块和大规模集成电路系统(SoC/SiP等)。
兼具JESD51-1定义的静态测试法(Static Mode)与动态测试法(Dynamic Mode),能够实时采集器件瞬态温度响应曲线(包括升温曲线与降温曲线),其采样率高达1微秒,测试延迟时间高达1微秒,结温分辨率高达0.01℃。
MicRED Power Tester功率循环测试设备
可以对包括 IGBT 器件在内的电力电子器件进行功率循环测试,即对被测电力电子器件施加应力测试。
首次同时集成了自动功率循环、热测试以及结构函数分析功能,客户只需要一个平台就能够在线器件进行热阻特性测试及功率循环可靠性测试。
ATS热线风速仪:用于单点或多点的空气温度和流速测试
每一个传感器可以同时测量温度和速度,并能有效地消除由于空气流动引起的测试误差。
单传感器技术,一个传感器可以同时测量温度和速度。
测试精准且易于使用。
多达32个传感器用于温度、速度测试。
测试实际或模拟PCB板的热量和流量分配。
高低素校准,速度测试范围:0~50m/s。
使用stageVIEWTM软件进行数据采集和显示。
通过传感器端口测量压力、速度和温度。
风洞
元器件研究:为半导体器件、IC的结到环境热阻的测试提供满足JESD51-6标准要求的强制对流环境。
散热器热特性研究:可以测试不同尺寸的散热器在不同对流条件下的热特性和流阻。
PCB板研究:研究PCB板在特定环境下的热量及流场分布。流场可视化:在特制的测试段内,通过观察烟雾或气泡等手段直接观察风洞内的流场分布。
根据实际需求不同,我们提供了三种不同类别的风洞:闭环风洞、开环风洞和便携式风洞。闭环风洞能够改变风洞内的流速及温度;开环风洞只能改变流速;便携式风洞体积比较小,便于移动。
ATS
专利单传感器技术,精确地测试温度和速度并消除误差。
通过单传感器测量温度和速度,消除了非等温气流造成的误差。
烛台式传感器是一款360°的读数传感器,在测试空间内尽可能不引入流动误差,从而确保最高的准确性。
Moku:Lab多功能电子测量仪:集成12个专业仪器功能,只需通过软件操作即可随时切换仪器,硬件会快速重新配置并执行指定的仪器功能。同时我们在不断增强当前仪器功能,并致力于研发更多的仪器加入到Moku:Lab中。
优于120 dB动态储备。
直观的数字信号处理示意框图。
内置探测点用于信号检测与数据记录。
支持内部或外部解调模式,包括PLL(锁相环)。
双相解调。
可切换直角(X/Y)或极坐标(R/θ)。
内置PID控制器。
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