【经验】立晶半导体音频芯片CL7016、CL4016和CL1009S的高低温实验
本文立晶半导体关于音频芯片CL7016,CL4016和CL1009S的高低温实验:具体的实验内容及结论如下所示:
1、实验目的
测试在低温下能否启动,低温和高温下性能是否有大的变化。
2、实验地点
深圳市华检测试实验室(西丽白沙物流园)
3、实验条件
高低温实验箱,低温-40°,高温85°,分别为两小时
4、连接结构图
5、实验过程
先确认测试板子正常,在低温下,静置1小时后上电启动,播放并录音,用耳机听播放是否正常,有无异常声音和杂音,在低温时间结束后,直接升温至85°。在此期间,监听有无变化和异常。在85°下,每个10分钟录音一次,不间断监听播放是否正常。
6.实验结论
在高低温下,一切正常。
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产品型号
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品类
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HeadphoneAmp
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THD+N(dB)
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Channel
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Package
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SNR(dB)
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CL1026
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编解码器
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50mW(16ohm@1.8V)
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-96/-95
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2-ch ADC/2-ch DAC
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QFN405X 5
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100dB/104dB
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