【产品】测试频率为50/100MHz的3380VLSI测试系统3380,具备可同测1024个晶片的能力
为因应未来IC晶片脚位数更多、速率更高、整合功能更为复杂的发展驱势,CHROMA以此发展方向提供新一代3380系列VLSI测试机台,包含3380D、3380P、3380机型,根据不同的脚位数或同测能力(Parallel Test),提供需求与成本效益兼具的测试解决方案。
VLSI 测试系统
此系列机型之一的VLSI测试系统3380,具有最高1280 I/O pins、256 VI、弹性化架构、以及完整选项功能板(ADDA/Hi-voltage DPS)等特色;可符合高同测的市场驱势,具备1024 I/O pin可同测1024个晶片的能力。除了独特的4-wire高密度IC电源(VI source) 外,弹性化可调整的架构还可提供Mini & Macro LED驱动IC、CMOS影像感测器(CIS)、及3D影像测试等解决方案;以利涵盖更广泛的IC测试功能与应用范围。
3380 VLSI测试系统可无缝接轨3380D (256pins) 与3380P(512pins),以因应更高的产能需求。3380系列VLSI测试系统无论在装机、稳定度、友善使用介面、及成本效益上,长期以来皆已于中国市场获得广泛印证。
3380 VLSI测试系统的主要特色:
· 50/100 MHz 测试频率
· 50/100 Mbps 数据速率
· 1024 I/O pins (最高 1280 I/O pins)
· 平行测试可达1024 sites
· 32/64/128 pattern 记忆体
· 每个通道16M捕获内存
· 多样化 VI 电源
· 弹性化硬体架构(可互换式 I/O, VI, ADDA)
· Real parallel trim/match 功能
· 时序频率测试单位 (TFMU)
· 高速时序测试单位 (HSTMU)
· 支援STDF工具
· 测试程式/pattern转换器(J750, D10, S50/100, E320, SC312,V7, TRI-6036等)
· AD/DA功能卡 (选配)
· SCAN 测试功能 (最高 2G M/chain) (选配)
· ALPG 测试功能可供记忆体IC用(选配)
· CRAFT C/C++ 程式语言
· 软件介面与3380P/3360P相同
· 人性化的 Windows 7作业环境
3380 VLSI测试系统的应用范围:
· MCU装置
· ADC/DAC混和讯号IC
· 逻辑IC
· ADDA
· ALPG
· Smart card
· Mini & Macro LED驱动IC
· CMOS影像感测器 (CIS)
· 电源IC (Class D IC)
· 消费性IC
· LED驱动IC
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