如何正确理解数字隔离器安规认证UL1577、IEC60747-5、VDE0884-10？
目前市面上常见的数字隔离器有光耦隔离器、容耦隔离器、磁耦隔离器等，它们不仅能提供信号隔离的作用，同时对防止电击保护也起到重要作用，为统一规范保护的等级，国际上给出很多安规标准，以SILICON LABS的SI86xx通信隔离容耦为例，它有通过如下的安规认证，参考如下图1所示。
图1：SI86xx通信隔离容耦通过的安规认证
通过如上图1所示，易知：
Silicon Labs SI86xx通信隔离容耦通过的安规有UL 1577、VDE 0884、IEC 60747-5-2、IEC 60950-1，IEC 61010-1、CQC GB4943.1等。那么，如何正确理解这些安规认证标准呢？
一、UL1577（针对器件绝缘耐压，等级评定严格基于电压击穿）
UL1577规范是美国认证标准，主要是针对器件绝缘耐压的，适用于光耦隔离器、容耦隔离器、磁耦隔离器等，等级评定严格基于电压击穿，不包括爬电距离和间隙方面的任何要求。
UL1577测试方式如下：
为通过该标准的认证，器件必须承受隔离电压VISO (由制造商规定，通常为2.5kVRMS或5KVRMS)达1分钟。此外，该规范允许采用120%隔离电压进行生产测试，持续时间为1秒钟。满足这些要求的器件(加上150% VISO过载试验和热老化试验)被认定为单保护等级。双保护等级要求能够耐受20kV放电试验(进行50次)和1秒钟额定隔离RMS电压或2.5kVRMS(取大值)的生产测试。
二、IEC 60747-5（等级评定标准基于局部放电试验，而非电压击穿）和VDE 0884-10（等级评定标准是基于隔离耐压）
IEC 60747-5是国际统一认可的标准，主要针对器件的局部放电实验。而VDE 0884-10是德国认证标准，也是欧洲最具权威认证，主要针对器件的隔离耐压标准，该标准同IEC 60664-1重复。
IEC 60747-5认证测试方式如下：
1、 局部放电试验要求将电压升至最大瞬态电压VIOTM，持续60秒钟，如下图2中SI86xx的最大瞬态电压VIOTM为6000Vpeak。
2、 然后将电压降低至1.5×VIORM，其中VIORM为最大工作绝缘电压（如下图2中SI86xx宽体封装为1200Vpeak，窄体封装为630Vpeak），持续10秒钟(如果波形为正弦波，那么VIORM为VIOWM的峰值，即最大工作绝缘电压为RMS值)。局部放电门限<5pC。
3、 生产测试过程中，试验时间缩短为1秒（60秒→10秒→1秒），试验电压为1.875×VIORM=VRP。同样，局部放电门限<5pC，参考如下图2所示。
图2：SI86xx通信隔离容耦VDE 0884-10和IEC 60747-5-2安规认证对照表
针对如上介绍的UL 1577、VDE 0884、IEC 60747-5-2等安规认证标准，是面向欧美、国际认证最具权威的认证标准，也是对于数字隔离器认证最重要的，可以在光耦隔离器、容耦隔离器、磁耦隔离器上均会出现的认证标准。
而IEC 60950-1，IEC 61010-1、CQC GB4943.1安规认证标准相对而言，针对数字隔离器的认证不是那么强制，各生产商将有针对的去做认证，下面简单介绍下IEC 60950-1，IEC 61010-1、CQC GB4943.1等安规认证的含义。
三、IEC 60950-1，61010-1（对内部间隙和爬电距离提出新要求）
定义了固体绝缘、模制和密封部件、印刷线路板内层、以及薄膜绝缘，并对薄膜绝缘的内部间隙和爬电距离提出定量的要求，可参考如下图3所示。
图3：IEC 60950-1，61010-1定义内部间隙和爬电距离的要求
四、CQC GB4943.1
此为中国质量认证中心标准，是ITE类产品的测试标准，主要是测试安全，像温升，打耐压，漏电流，球压，针焰，异常等等，如果国外的器件想在中国推广产品，有时必须要通过此类认证，本文不做重点介绍。
通过如上对UL 1577、VDE 0884、IEC 60747-5-2三种安规认证的详细介绍，相信大家对数字隔离器的绝缘耐压标准、局部放电实验标准有清晰的认知，感兴趣的可以随便翻看下各厂牌的光耦、容耦、磁耦等认证要求，相信一定离不开此三种安规认证要求的。如果您感兴趣记得收藏和点赞哦，感谢！有问题请留言或电话联系世强400-887-3266。
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