【经验】Silicon Labs 8位单片机EFM8BB2系列程序运行时间测试方法
SILICON LABS 8位单片机EFM8系列基于流行的8051核心,上手简单。并且在传统8051单片机的基础上加入了ADC、I2C、SPI等常用外设,包括Bsuy Bee、Laser Bee、Sleepy Bee、Universal Bee几大系列,广泛应用于各个行业。
在进行嵌入式开发的过程中,我们经常要对程序进行优化,以减少程序运行时间,在优化代码的过程中如果能得到各个函数的具体运行时间,将对我们的优化工作起到一个很好的量化作用。本文将以8位MCU EFM8BB21F16G为例,分享一下如何测试程序的运行时间。
1. 我们采用HFOSC0作为时钟源,将其8分频作为系统时钟使用。即系统时钟为24.5MHz/8= 3.062MHz
2. 我们开启Timer2(用于计算程序运行时间),Time时钟源采用系统时钟12分频,即3.062MHz/12=255.208kHz,周期为3.918us。模式设置为Mode0(16-bit autoreload),这样Timer2溢出的周期就是256.794ms,由于函数的执行过程几乎不会达到上百ms,所以我们这里无需再考虑Timer2的溢出情况(如需记录较长时间,请对Timer2的溢出中断进行计数),这样我们就相当于把Timer2设置成了一个16位的自由计数器。
3. 在需要测试的函数前后分别读取Timer2的数值,即TMR2L与TMR2H这两个寄存器的值,将两次得到的值做差则得到了此函数的运行时间。
举例如下:
测试如下函数的运行时间。
首先我们定义变量,如下:
然后,在函数运行前后记录时间,如下:
调试程序,我们在Simplicity Studio调试界面中可以看到:
由此我们得出程序运行时间为:8096*3.918us=31720.128us。
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产品型号
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品类
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系列
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Frequency(MHz)
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Flash (kB)
|
RAM (kB)
|
Vdd min(V)
|
Vdd max(V)
|
Package Type
|
Package Size (mm)
|
Internal Osc.
|
Dig I/O Pins
|
ADC 1
|
Temp Sensor
|
Timers (16-bit)
|
PCA Channels
|
DAC
|
Comparators
|
UART
|
SPI
|
I2C
|
HS I2C Slave
|
EMIF
|
CAN
|
LIN
|
VREF
|
Debug Interface
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C8051F392-A-GM
|
8位MCU
|
C8051F39x Small Form Factor
|
50
|
16
|
1
|
1.8
|
3.6
|
QFN20
|
4x4
|
±2
|
17
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10-bit, 16-ch., 500 ksps
|
Temp Sensor
|
6
|
3
|
10-bit, 2-ch.
|
1
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1
|
1
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2
|
0
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0
|
0
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0
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VREF
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C2
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选型表 - SILICON LABS 立即选型
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UID是芯片中新加的全球唯一ID,即每个芯片的ID都是不一样的,EFM8系列的MCU上都包含此ID。有两类获取UID的方式,一种通过读取RAM的特定地址获得,一种通过读取Flash的特定地址获得。在早期引入此ID的MCU上(比如EFM8BB1/SB1/SB2)这个ID为32位,在芯片复位时(PC指针被复位至0之前)被复制至RAM中特定位置,用户程序可以读取其值。此位置的RAM仍然可以由用户使用。需要注意的是如果此位置被编译器分配了变量,那么当函数执行至main()时此位置的内容会被初始化代码覆盖。EFM8UB2的UID也是此类,但其位数为128位。在新的EFM8系列MCU上(比如EFM8BB3/LB1/UB1),UID位数为128位,存储在Flash上。
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