【经验】SI1153接近传感器光强度输出异常分析

时间： 2020-06-12 来源：世强

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针对目前越来越多的人采用Si1153用于温控器上的接近检测，从而实现智能控制温控器屏幕点亮功能。伴随着用的人多了，那么在开发中出现的问题也就变得多种多样起来。而这里我们针对程序开发过程中光强度输出异常问题给大家做一下简单的分析，希望对大家有所帮忙。

首先，SILICON LABS的Demo板调试软件上，可以自动生成配置代码。再结合原厂提供的底层驱动代码，其程序框架的搭建并不困难。主要时往往我们在结合参考例程，编写完程序后，发现我们读写寄存器都正常。但在发送start命令获取光强时，发现手势接近时读取光强一直为0。那么产生这种情况的原因主要有以下两个方面。

第一个方面，很多人获取光强时，不是采用中断的方式，而是直接采用定时读取的方式。这里我们需要注意，传感器本身有个数据采样频率配置，其在数据采样频率设置比较短时，就面临着当你定时正在获取数据时，可能面临着传感器本身正在进行数据采样，导致数据清零。正确的做法是通过判断中断引脚输出状态，通过中断方式获取数据。

第二个方面，在中断获取时发现光强度为0，只有当物体和传感器非常接近时才有光强度输出。产生这种问题的原因时，ADCSENSO寄存器中有个HW_GAIN,它是配置测量时间的。其相当于控制光电管接收光强的时间，即接收时间越长对于红外光而言其获取的光通量越多。所以更改其值有利于提高接近检测的测试距离。

以上，只是针对自己使用Si1153用于接近检测时，软件调试的一些问题分析，希望对大家有所帮助，当然，如果有什么疑问可以直接在文章下留言，我们再做进一步交流。

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